An atomic force microscope follows a surface with a tip on a tiny cantilever, translating minute forces and deflections into a three-dimensional nanoscale map.

The force microscope feels the unseen

ScienceTechnologyEngineeringBiology

Why it matters

The idea in context

Scanning tunnelling microscopy depended on an electrical current and therefore favoured conducting samples. In 1986 Gerd Binnig, Calvin Quate and Christoph Gerber proposed a different messenger: force. Their microscopic tip can touch a surface or hover just above it while attraction and repulsion bend the cantilever; a laser commonly magnifies that motion for the detector. Because the method can work on insulators and in liquids as well as in vacuum, it brought polymers, membranes and biological structures into the nanoscale landscape. Seeing became a disciplined form of touch.

Türkçe

Aynı kart, başka bir dilde.

Atomik kuvvet mikroskobu, minicik bir konsol üzerindeki uçla yüzeyi izler; son derece küçük kuvvetleri ve sapmaları üç boyutlu nano ölçekli bir haritaya çevirir.
Kuvvet mikroskobu görünmeyeni hissediyor

Taramalı tünelleme mikroskobu elektrik akımına bağlıydı ve bu yüzden iletken örnekleri tercih ediyordu. Gerd Binnig, Calvin Quate ve Christoph Gerber 1986'da başka bir haberci önerdi: kuvvet. Mikroskobik uç yüzeye değebilir ya da hemen üzerinde durabilir; çekim ve itme konsolu büker, bir lazer de çoğunlukla bu hareketi algılayıcı için büyütür. Yöntem vakumun yanı sıra yalıtkanlarda ve sıvılarda çalışabildiğinden polimerleri, zarları ve biyolojik yapıları nano ölçekli peyzaja taşıdı. Görmek, disiplinli bir dokunma biçimine dönüştü.

Source trail

Read beyond the card.

Background reading: Atomic force microscopyAttribution and context are revised when stronger evidence appears. Corrections are welcome through the editorial page.
Next in the open archiveElectron microscopes use short-wavelength electron beams and electromagnetic lenses to resolve structures far smaller than visible-light microscopy can distinguish.Q2004